etude et modélisation de cristaux photoniques en silicium(Si) : application au capteurs de température

Abstract

L’objectif de cette étude est la conception d’un capteur de température à base des cristaux photonique en silicium (Si) à l’aide du logiciel RSOFT CAD.Le principe de détection est basé sur la variance d'indice de réfraction du Si due au changement de temperature. Nos calculs indiquent que les structures proposées sont très sensibles au changement d’indice de réfraction des trous, une sensibilité jusqu’à S=210nm/RIU est Observée. Dans une plage dynamique de 300K à 400K, nous avons trouvé une sensibilité très élevée d’environ 576nm/RIU.